蔡司Gemini系列場發射掃描電子顯微鏡，具有出色的探測效率，能夠輕松實現亞納米分辨成像，適用于多種材料的高分辨成像與分析。無論是在高真空還是可變真空模式下，對任意樣品進行成像時都具有更高的表面細節信息，，可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像。為生命科學研究、工業實驗室、成像平臺、高校或研究機構提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微技術與解決方案。
[ 產品特點 ]
ü 出色的檢測效率
ü 優異的低電壓分辨率和表面靈敏度
ü 智能的自動功能，一鍵實現聚焦，像散，電子束對中的自動調節
ü 智能的電子光學設計，可實現自動光闌優化，提高低電壓下的分辨率
ü 最低倍數可達1X的大視野模式，可拍攝大樣品及導航至感興趣區域
ü 獨特的無漏磁鏡筒，輕松應對磁性材料表征
ü 對稱的EDS接口設計，可滿足無陰影EDS圖像的采集豐富的拓展性能
[ 應用領域 ]
ü 材料科學，如納米材料表征
ü 工業應用，如失效分析，性能分析
ü 生命科學，如大體積細胞高通量成像
ü 電池領域，如老化分析、電極材料表征
ü 電子半導體領域，如半導體器件失效分析
磁性FeMn納米顆粒，圖中立方體的邊長約25nm，1kV
分子篩上搭載納米銀顆粒，左圖為Inlens SE探測器成像，右圖為EsB探測器的成分襯度像，1.5kV
鋰電池隔膜在低溫 -160°下進行成像
三枚硬幣可以在同一視野下進行觀察
EsB探測器FinFET晶體管成像
STEM探測器小鼠大腦組織切片明場成像