ContourSP 大面板計量系統融合了十余年封裝光學表征專業技術，使高密度互連 PCB（HDI-PCB）基板的測量效率比上一代白光干涉（WLI）儀器增加了一倍以上。該系統專用于在制造過程中測量 PCB 面板的每一層，融入了一大批先進測量功能，大幅提升半導體封裝行業的量產性能、便利性、可靠性和效率。具有計量功能的 ContourSP 采用簡單易用的生產界面，通過用戶自定義輸入，實現快速、便捷的基準點對齊。
聯系人：林經理
電 話：0755-29852340，29852450
手 機：13510161192
郵 箱：arlen.lin@szkesda.com
地 址：深圳市光明區公明街道水貝北路大新華達工業園3號203
